单光束紫外可见分光光度计和双光束紫外分光光度计的区别
1.    单光束仪器
单光束仪器只有一条光路，在各个波长上依次对参比标准和样品进行测量，对测试结果进行比较，计算出样品的反射因数（或透射比）。各个波长上比较当然很麻烦。一般是先将参比标准在整个波长范围内测试，将测试结果保持。然后以样品代替标准作同样测量，再计算结果。单光束仪器的优点是能够保证参比标准和待测样品在*相同的光路和电气条件下进行测量；缺点是必须保证在标准和样品（有时连续测多个样品）整个测试时间内仪器保持稳定。对于这种要求，现代的电子器件和技术、稳压好的恒定光源还是可以达到的，能满足一般使用。但仪器应充分预热以达到稳定。有的厂家常用一个光电器件监测光源总能量的变化，这称作准（假）双光束方式。它只能一定程度上校正光源变化产生的误差；因为光能变化较大时，还会引起光源光谱功率分布的变化，各个波长上光能的变化并不一定按同一比例增减。当然也不能校正电气部分的漂移。
双光束仪器
常见的双光束仪器有两种安排
1仪器的光度系统分成两条光路，一条测试光路，一条参比光路。在参比窗口上放置一参照物；测试窗口则先后放置参比标准和待测样品。两光束在分别经过参照物和参比标准（或待测样品）后，合在一起，以很短的时间间隔被同一探测器交替接收，完成两路信号的采集。
参比标准和待测样品必须放在同一条光路内进行测试，这是因为两条光路很难做到*对称，效率相同。只有在同一条光路内，探测器输出的信号大小才只决定于被测物体的反射因数（或投射因数），这样，就可以由参比标准、待测样品的响应值和参比标准的反射因数（或投射因数）的数据算出待测样品的反射因数。

参比光路和参照物的作用是，监测参比标准和待测样品测量过程中光源能量波动和电气部分的漂移，计算机将两次测量中的变化情况逐个记录，在zui后计算时予以校正。这就是与单光束仪器本质上不同的地方。

有人企图将参比标准和待测样品分别放在参比光路和测试光路内，一次测量完成工作，这种简单作法是不可用的。但是如果事先对两光路的不平衡性，进行测试，并予以记录，而且仪器又很稳定，zui后对这种不平衡性进行校正，还是可以的。事实上有的仪器也用了这种方法。
这种双光束仪器，因为是用的同一套电气系统，两光路测试相隔时间极短，所以它既能校正光源的波动，又能校正电气漂移带来的误差。

用阵列接收器件的分光光度计中，很难用同一探测器来接收参比光路和测试光路分别送来的信号。因此，两条光路各自有自己的探测器。事实上，这类仪器可做成几乎*相同的两套测试系统，一套对样品和参比标准进行测试，同前面说的一样；另一套系统对光源（或照明光束）进行测试。监视在参比标准和待测样品测试过程中，照明光源光谱功率变化的情况，并进行记录。计算时校正光源变化的影响。因为电器系统两套，所以这种双光路不能校正电气部分漂移造成的误差。而光源的能量变化可得到很好的校正，即使用闪光灯也没有问题。就电气部分的漂移而言，如前所说，现代的电子器件的技术是可以满足使用要求的。