分光光度计产生杂散光的因很多，其较主要的原因大致有以下9个方面：

　　1、灰尘沾污光学元件，如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等；

　　2、光学元件被损伤，或光学元件产生的其他缺陷，如光栅、透镜和反射镜、棱镜材料中的气泡等；

　　3、准直系约部或有关隔板边缘的反射；

　　4、光学系统或检测器没有作适当的屏蔽；

　　5、热辐射或荧光引起的二次电子发射；

　　6、狭缝的缺陷；

　　7、光束孔径不匹配；

　　8、光学系统的像差；

　　9、单色器内壁黑化处理不当。

　　分光光度计只测试220nm处的杂散光，

　　不测试340nm处的杂散光，

　　这样是不正确的，

　　需测试220nm处杂散光是因为：

　　①据仪器学理论中的电光源理论，氘灯在220nm处能量很小，即信号很小，容易显现杂散光；

　　②根根据量子光学理论，波长是能量的倒数，波长短能量大，容易产生杂散光，而220nm处属于短波部分；

　　③根据仪器学理论中的光电发射理论，光电倍增管在220nm处的光谱响应(灵敏度)低，容易显现杂散光。而测试340nm处杂散光的原因是*不同的，因为340nm处一般是氘灯换钨灯和仪器调换滤光片的地方，此时容易产生杂散光。所以，对于分光光度计来讲，应该测试220nm和340nm两处的杂散光。

　　杂散光的测试方法：

　　1、首先将参比液注入配对石英石吸收池，分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。

　　2、将减光片插入试样光路的滤光片槽内，其读数即为减光片的衰减值K，然后将减光片插入参比光路的滤光片座内，

　　3、将石英吸收池中的蒸馏水依次换成上述截止滤光液，插入试样试样池座中，在相应的波段内扫描、打印；在记录纸的作标上量取测定波长处的透光度，乘以衰减值K，即得各测定波长处的杂散光值。